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기술지원 -
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AG-STEP (GCT-311) |
도금두께측정기 | 전해식 |
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다층니켈STEP 두께측정용 은전극
광택/반광/무광니켈두께를 각각 측정합니다.
컴퓨터의 프린트로 외부 성적서 직접 출력이 가능합니다.
전위그래프를 PC에 저장가능하며 A4로 출력합니다. |
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K-48G |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
니켈 위의 은도금 측정
무전해니켈, NS, INC 위의 은도금 측정
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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K-82 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
다층니켈(STEP) 측정용 시약
다층니켈(STEP) 측정용
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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K-44 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
동도금 측정용
예외) 철, 알루미늄위의 은도금 측정
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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Spring |
도금두께측정기 | 전해식 |
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측정물과 가스켓이 밀착되도록 압력을 가해주는 스프링
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Cell-Holder |
도금두께측정기 | 전해식 |
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셀과 스프링을 연결하는 부품
크기 : 20 x 25 x 25 mm
내경파이 : 14.5mm
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Anode&Cathod Cord |
도금두께측정기 | 전해식 |
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시약을 전해시키고 측정에 필요한 전력공급케이블
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K-51 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
크롬 측정용
예외) 알루미늄 위의 주석 도금
동 위의 철 도금
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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K-54 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
니켈 측정용
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
| 10 |
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C Gasket |
도금두께측정기 | 전해식 |
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측정면적 1.7mmφ
판매단위 : 1Set (5ea)
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B Gasket |
도금두께측정기 | 전해식 |
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측정면적 2.4mmφ
판매단위 : 1Set (5ea
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A Gasket |
도금두께측정기 | 전해식 |
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측정면적 3.4mmφ
판매단위 : 1Set (5ea)
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K-50 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
주석 측정용
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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K-48 |
도금두께측정기 | 시약 |
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Elecfine 전해식 도금두께측정기 시약
동, 주석위의 은도금 측정
아래 표 참고
제작사 : Elecfine (Japan)
유효기간 : 개봉일로부터 1년
용량: 500ml |
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Cell-B |
도금두께측정기 | 전해식 |
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B,C Gasket 용 셀
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Glass Holder |
도금두께측정기 | 전해식 |
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에어교반용 Cell Glass를 고정시켜주는 부품
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Cell-A |
도금두께측정기 | 전해식 |
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A Gasket 용 셀
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C-NO6 |
도금두께측정기 | 전해식 |
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Anode & Cathod 와 Cell을 연결해주는 나사
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CCB-250CC |
도금두께측정기 | 전해식 |
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측정에 필요한 증류수를 담는 Platic 병
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EX-3000AUTO |
도금두께측정기 | X선식 |
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표시분해능 : 0.0001um
최소측정면적 : 0.1mm
코리미터 5종류 기본제공
편리한 자동 스테이지
측정패턴저장 연속측정
3차원 측정그래프 출력
PCB, 각종부품 측정
PCB기판 등과 측정면적이 작은 부위측정에 알맞습니다.
단자 (Connector), 전자부품, 볼트, 너트, 와이어(Wire)의 측정이 가능합니다.
굴곡이 심하고 다양한 형태의 악세서리 측정이 가능합니다.
측정량이 많은 자동차부품, 기계부품 등의 측정에 적합합니다.
비파괴 측정
측정대상물을 파괴하지 않습니다.도금물의 표면을 접촉하지 않으며, 손상하지 않고 측정이 가능합니다따라서, 표준판은 반영구적으로 사용이 가능합니다.
빠른 처리속도
멀티채널 : 멀티채널에 의해 스팩트럼분석이 빠른 시간내에 처리됩니다. 처리속력은 약 2∼3초 정도입니다. |
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