 특징 파장범위:320 to 1100㎚
광원:Tungsten Halogen
10-fold measurement 기술적용으로측정오류최소화 기능 하크의 축적된 최신 기술과 사용자 친화적 부가기능들로 최상의 측정값 제공
컬러 디스플레이 화면에 단계별 실험 절차를 그림과 글로 나타냄
10-fold measurement 기술로 셀의 스크래치 및 오염으로 인한 측정값 오류를 최소화,
셀을 회전시키며 10번 측정하여 평균값 표시
1개의 이더넷 LAN 포트와 3개의 USB 포트로 프린터 및 네트워크 구성 가능
데이터 다운로드가 용이하고 온라인으로 기기 업데이트 가능
USB 또는 LAN을 통해 손쉽게 업데이트 가능
30개 이상의 실험이 바코드로 가능
자동으로 바코드를 읽고 적합한 실험법을 자동으로 선택
실험의 신뢰성과 생산성을 높여주며, 실험 시간과 잠재적인 오류를 없애줌
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DR 3900 Benchtop Spectrophotometer Performance
Specifications |
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광학시스템 |
Split Beam |
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측정모드 |
Transmittance (%), Absorbance, and
Concentration |
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광원 |
Tungsten Halogen |
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파장
범위 |
320 to 1100㎚ |
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파장
정확도 |
± 1.5㎚ (wavelength range 340-900㎚) |
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파장
분해능 |
1㎚ |
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파장
교정 |
자동 |
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파장
선택 |
선택된
측정 프로그램에서 자동 |
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Scanning Speed |
= 8㎚/s (in steps of 1㎚) |
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Spectral Bandwidth |
5㎚ |
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사용자
입력 프로그램 |
100 |
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데이터
저장 |
2000 readings |
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측정법
자동 인식 |
With TNTplus vial tests |
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10-fold measurement and averaging |
With TNTplus vial tests
(측정셀 표면을 10회 스캐닝하여 평균값
표시) |
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표시
화면 |
7" TFT WVGA (800 pix x 480 pix) |
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사용가능
Cell |
1" square, 1" round, 1-㎝ square, 1-㎝×5-㎝,
Multipath 1"/1-㎝, 16-㎜
round, 13-㎜ round |
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지원
언어 |
English, 한국어외 16개 국어 |
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Physical and Environmental |
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제품
크기 |
350×255×151㎜ (W×D×H) |
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사용
조건 |
10 - 40℃ (50 - 104℉), max. 80% relative humidity
(non-condensing) |
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보관
조건 |
-40 - 60℃(-40 - 140℉) max. 80% relative humidity
(non-condensing) |
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Additional Technical Data |
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전원 |
Input: 100-240V/50-60 Hz (Output: 15 V/30
VA) |
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입출력
지원 |
2×USB type A, 1×USB type B, 1×Ethernet |
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Enclosure rating |
IP40 (excluding interfaces and power
supply) |
DR3900 관련 |
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